
KTLO inom äldre IT: Varför det kostar moderniseringsbudgetar att hålla lamporna tända
IN-COM December 29, 2025 Kodgranskning, Datamodernisering, Legacy -systemKTLO i äldre IT-miljöer representerar mycket mer än rutinmässiga driftskostnader. Det återspeglar den ackumulerade kostnaden för att underhålla system...
Läs mer
VB.NET statiska analysverktyg som skalar över stora kodbaser
IN-COM December 27, 2025 Applikationsmodernisering, Kodgranskning, Utvecklare, Information Technology, Verktyg och lösningarFöretagsmiljöer i VB.NET tenderar att vara bestående mycket längre än ursprungligen planerat, och ackumulerar lager av funktionalitet, delade bibliotek och operativa beroenden...
Läs mer
Statiska analysverktyg för Enterprise Salesforce Delivery: Apex och metadata under kontroll
IN-COM December 26, 2025 Branscher, Information Technology, Tech Talk, Verktyg och lösningarSalesforce-leveransmiljöer för företag drivs under en unik konvergens av begränsningar som skiljer dem från konventionella applikationsplattformar. Apex-kod...
Läs mer
Statisk analys för att upptäcka resursläckor i språk som inte är GC-språk
IN-COM December 25, 2025 Tillämpningar, Kodgranskning, Programvara för effektanalys, Tech TalkFöretagssystem skrivna i språk som inte används för att samla in skräp förlitar sig på explicit resurshantering för att upprätthålla stabilitet under långa exekveringstidsperioder. Minnesbuffertar,...
Läs mer
Analysera komplexa JCL PROC-överstyrningar för att förstå produktionsflödet
IN-COM December 24, 2025 Tillämpningar, Compliance, Data, Konsekvensanalys, Tech TalkÄldre batchmiljöer är starkt beroende av JCL PROC:er för att standardisera exekvering, minska dubbelarbete och möjliggöra operativ flexibilitet. Med tiden...
Läs mer
Vad händer när du hoppar över kaostestning i APM-planering
IN-COM December 23, 2025 Compliance, Konsekvensanalys, Information Technology, Tech TalkStrategier för övervakning av applikationsprestanda utformas ofta kring antaganden om stationära tillstånd som sällan håller under verkliga felförhållanden. Instrumentpaneler, tröskelvärden,...
Läs mer
